探針臺(tái)為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)，適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。

根據(jù)測(cè)試樣品分類：晶圓測(cè)試、LED測(cè)試、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、太陽(yáng)能電池片測(cè)試、材料表面電阻率測(cè)試。

根據(jù)應(yīng)用分類：射頻測(cè)試、高溫環(huán)境測(cè)試、低電流（100fA *）測(cè)試、I-v/c-v/p-iv測(cè)試、高壓，大電流測(cè)試、磁場(chǎng)環(huán)境測(cè)試、輻射環(huán)境測(cè)試、積分球測(cè)試。